單(dan)雙(shuang)翼跌(die)落試(shi)驗(yan)機和(he)零(ling)跌落試(shi)驗(yan)機區(qu)別(bie)
單雙翼跌(die)落(luo)試(shi)驗(yan)機和(he)零(ling)跌落試(shi)驗(yan)機是兩種不(bu)同(tong)類型的跌落試(shi)驗(yan)設(she)備(bei)，主(zhu)要區別(bie)在於其(qi)結(jie)構(gou)和(he)測(ce)試(shi)方(fang)法。
結(jie)構(gou)與(yu)原(yuan)理(li)：
單(dan)翼(yi)跌落試(shi)驗(yan)機： 只(zhi)有壹(yi)個(ge)支(zhi)撐(cheng)臂用於夾持(chi)測試(shi)物品，適用於中小型包(bao)裝(zhuang)件的(de)跌落(luo)測試(shi)。
雙(shuang)翼跌(die)落(luo)試(shi)驗(yan)機： 有(you)兩(liang)個(ge)支(zhi)撐臂(bi)，可(ke)以(yi)更(geng)穩定地夾持(chi)和(he)釋(shi)放測試(shi)物品，適用於較大(da)或較(jiao)重(zhong)的包(bao)裝(zhuang)件。
工(gong)作(zuo)原(yuan)理(li)： 通(tong)過(guo)電(dian)機驅(qu)動(dong)或者(zhe)機械(xie)裝(zhuang)置將支(zhi)撐臂(bi)提(ti)升(sheng)到設(she)定(ding)高(gao)度，然後(hou)快(kuai)速釋放，使被測(ce)試(shi)物品自(zi)由(you)下(xia)落，模擬(ni)自(zi)然跌(die)落(luo)的情(qing)況(kuang)。
零(ling)跌落(luo)試(shi)驗(yan)機：
結(jie)構(gou)： 采(cai)用特殊(shu)的(de)支撐(cheng)和(he)釋(shi)放裝(zhuang)置，通(tong)常是電(dian)磁(ci)吸(xi)盤(pan)或(huo)者(zhe)氣動(dong)裝(zhuang)置。
工作原(yuan)理(li)： 先將被(bei)測試(shi)物品固(gu)定在支撐(cheng)裝(zhuang)置上(shang)，通(tong)過(guo)控制(zhi)裝(zhuang)置使支撐裝(zhuang)置迅速下移(yi)，達到壹(yi)定(ding)高(gao)度後(hou)瞬(shun)間(jian)停(ting)止(zhi)，使(shi)測(ce)試(shi)物品以(yi)零(ling)速度開(kai)始自(zi)由(you)跌(die)落，模擬(ni)真(zhen)實的(de)跌落過(guo)程。
測(ce)試(shi)方(fang)法與(yu)適用範圍(wei)：
單雙(shuang)翼跌落試(shi)驗(yan)機：
測(ce)試(shi)方(fang)法： 測(ce)試(shi)物品由壹(yi)定(ding)高(gao)度自(zi)由(you)下(xia)落，測試(shi)其(qi)在跌落(luo)過(guo)程中(zhong)的耐沖擊性。
適用範圍(wei)： 適用於各種包(bao)裝(zhuang)件、箱(xiang)子(zi)、電(dian)子(zi)產(chan)品等(deng)的跌(die)落測(ce)試(shi)，可(ke)以(yi)模(mo)擬(ni)運(yun)輸過(guo)程中(zhong)的跌(die)落情(qing)況(kuang)。
零(ling)跌落(luo)試(shi)驗(yan)機：
測(ce)試(shi)方(fang)法： 被(bei)測(ce)試(shi)物品以(yi)零(ling)初速度開(kai)始自(zi)由(you)跌(die)落，更加(jia)精(jing)準(zhun)地模擬(ni)實(shi)際使(shi)用過(guo)程中(zhong)可(ke)能(neng)遇(yu)到的跌落情(qing)況(kuang)。
適用範圍(wei)： 適用於對(dui)跌(die)落高(gao)度和(he)沖(chong)擊角度要求較(jiao)高(gao)的(de)精(jing)密電(dian)子(zi)產(chan)品、小型家電(dian)、手(shou)機等(deng)的跌(die)落測(ce)試(shi)。
總的來(lai)說(shuo)，單雙(shuang)翼(yi)跌(die)落(luo)試(shi)驗(yan)機更(geng)適合壹(yi)般包(bao)裝(zhuang)件的(de)跌落(luo)測試(shi)，而(er)零跌(die)落試(shi)驗(yan)機則適用於對(dui)跌(die)落條(tiao)件(jian)要求較(jiao)高(gao)的(de)精(jing)密儀(yi)器和(he)電(dian)子(zi)產(chan)品。兩者(zhe)在測試(shi)精(jing)度和(he)適用範圍(wei)上(shang)有所(suo)不同(tong)，用戶可(ke)以(yi)根(gen)據(ju)具體測(ce)試(shi)需(xu)求選擇(ze)合適的設(she)備(bei)。
